一般常用篩選方法來剔除失效的
LED貼片燈珠產(chǎn)品，把早期失效的LED貼片燈珠產(chǎn)品優(yōu)化剔除，從而減少進(jìn)入客戶應(yīng)用領(lǐng)域中的產(chǎn)品的失效率。也不僅是對產(chǎn)品的優(yōu)化，更是對企業(yè)的優(yōu)化對客戶負(fù)責(zé)的一種道德表現(xiàn)，剔除早期失效LED貼片燈珠產(chǎn)品主要有如下一些方法：
1.LED貼片燈珠電熱加速疲勞試驗：在每一生產(chǎn)批次的LED貼片燈珠產(chǎn)品中，按規(guī)定的抽樣比率隨機(jī)抽取一定數(shù)量的樣本進(jìn)行缺埳的產(chǎn)品在較大強(qiáng)度的電熱應(yīng)力下暴露出來，從而達(dá)到剔除的目的。
2.LED貼片燈珠壽命實驗：通過對不同工藝，材料的每類產(chǎn)品數(shù)千，甚至數(shù)萬小時的跟蹤觀察。積累數(shù)據(jù)，從而作出它們的預(yù)期工作的“平均壽命”的統(tǒng)計數(shù)據(jù)。壽命實驗一般在規(guī)定的環(huán)境條件下，對LED加寘額定的功率，長期進(jìn)行通電老化，并定期測試它的有關(guān)光電參數(shù)記錄對比得出相關(guān)數(shù)值。
3.LED貼片燈珠環(huán)境試驗：環(huán)境試驗是模擬LED在應(yīng)用中遇到的各類自然現(xiàn)象的侵襲，攷驗LED的承受能力。一般來說，環(huán)境試驗并不是對所生產(chǎn)的LED全部試驗，因為有些試驗屬破壞性試驗，被試樣品會產(chǎn)生外觀性能的變化。不能再作產(chǎn)品出廠。因此環(huán)境試驗采用定期抽樣方法。
